搜索產(chǎn)品
掃描電化學(xué)顯微系統(tǒng)（SECM）
交流掃描電化學(xué)顯微鏡系統(tǒng)（ac-SECM）
間歇接觸掃描電化學(xué)顯微鏡系統(tǒng)（ic-SECM）
微區(qū)電化學(xué)阻抗測試系統(tǒng)(LEIS)
掃描振動點擊測試系統(tǒng)（SVET）
電解液微滴掃描系統(tǒng)（SDS）
交流電解液微滴掃描系統(tǒng)（ac-SDS）
掃描開爾文探針測試系統(tǒng)（SKP）
非觸式微區(qū)形貌測試系統(tǒng)（OSP）
Uniscan M470 微區(qū)掃描電化學(xué)工作站出色的性能：
1、快速精準的閉環(huán)定位系統(tǒng)為電化學(xué)掃描探針納米級研究的需求而特別設(shè)計。
2、結(jié)合Uniscan 獨特的混合型32-bit DAC技術(shù)，用戶可以選擇合適實驗研究的最佳配置。
3、先進和靈活的工作平臺。
4、系統(tǒng)可提供9種探針技術(shù)，使得M470成為全球最靈活的電化學(xué)掃描灘鎮(zhèn)工作平臺。
5、全面的附件。
6、7種模塊可選，3種不同電解池，各式探針，長距顯微鏡以及后處理數(shù)據(jù)分析軟件。
Uniscan M470 微區(qū)掃描電化學(xué)工作站特征：
1、SECM自動處理曲線
2、SECM用戶自定義處理曲線步長變化
3、高分辨率讀取
5、手動或自動調(diào)節(jié)相位
Uniscan M470 微區(qū)掃描電化學(xué)工作站同時具備如下特點：
1、傾斜校正.
2、X或Y曲線相減（5階多項式）。
3、2D或3D快速傅里葉變化。
4、實驗，探針移動和區(qū)域繪圖的自動排序。
5、圖形實驗測序引擎（GESE）。
6、支持多區(qū)域掃描。
7、所有實驗多個數(shù)據(jù)視圖。
8、峰值分析。
Uniscan M470 微區(qū)掃描電化學(xué)工作站是由Uniscan儀器開發(fā)的第四代掃描探針系統(tǒng)，具有更高規(guī)格和更多探針技術(shù)。
Uniscan M470 微區(qū)掃描電化學(xué)工作站技術(shù)參數(shù)
工作站（所有技術(shù)）
掃描范圍（x,y,z）：大于100mm
掃描驅(qū)動分辨率 ：最高0.1nm
閉環(huán)定位：線性零滯后編碼器，直接實時讀出x,z和y位移
軸分辨率（x,y,z）：20nm
最大掃描速度：12.5mm/s
測量分辨率 ：32-bit解碼器@高達40MHz
壓電（ic-和ac-掃描探針技術(shù)）
振動范圍：20nm~ 2μm峰與峰之間1nm增量
最小振動分辨率：0.12nm(16-bit DAC,4μm)
壓電晶體伸展：100μm
定位分辨率 ：0.09nm(20-bit DAC ,100μm)
機電
掃描前端：500×420×675mm(H×W×D)
掃描控制單元：275×450×400mm(H×W×D)
功率：250W
